Παρασκευή και χαρακτηρισμός διεπιφανειών οξεδίων με Si και Ge για διατάξεις μ ικροηλεκτρονικής
Στοιχεία Διπλωματικής
- Ακαδημαϊκό Έτος:
- 2019 - 2020
- Θεματική Ενότητα:
- Materials Science and Technology
- Επιβλέπων:
- Κέννου Στέλλα
- Υποχρεωτικό Μάθημα 1:
- Surface Science (CHM_E_Β3)
- Υποχρεωτικό Μάθημα 2:
- Microelectronics Technology (CHM_E_Γ4)