Παρασκευή και χαρακτηρισμός διεπιφανειών οξεδίων με Si και Ge για διατάξεις μ ικροηλεκτρονικής

Στοιχεία Διπλωματικής
Ακαδημαϊκό Έτος:
2019 - 2020
Θεματική Ενότητα:
Επιστήμης & Τεχνολογίας Υλικών
Επιβλέπων:
Κέννου Στέλλα
Υποχρεωτικό Μάθημα 1:
Επιστήμη Επιφανειών (CHM_E_Β3)
Υποχρεωτικό Μάθημα 2:
Μικροηλεκτρονική Τεχνολογία (CHM_E_Γ4)